Khả năng để đánh giá chính xác sự toàn vẹn cấu trúc của các bộ phận in 3D là một bước quan trọng trong việc thúc đẩy sản xuất phụ gia (AM). Oak Ridge National Laboratory đã xác định phát hiện lỗi và tổng thể là một phần chất lượng là một trong những thách thức cơ bản mà hiện tại đang hạn chế sử dụng và các ứng dụng dựa trên polymer sản xuất phụ gia. Vì vậy, chất lượng đảm bảo và kiểm tra phương pháp sản xuất phụ gia đã được theo đuổi unremittingly ở vòng tròn học tập và công nghiệp.
Các nhà nghiên cứu tại Đại học Vanderbilt đã phát triển một phương pháp kiểm tra không phá hoại cho các bộ phận in 3D mà sử dụng vàng hạt nano để xác định một cách trực quan các khiếm khuyết, chẳng hạn như thiếu lớp in xảy ra trong quá trình sản xuất. Những khiếm khuyết có thể được gây ra bởi một vòi phun in bị tắc, nghèo vật chất đùn hoặc các yếu tố khác. Nếu khiếm khuyết không được tìm thấy, chúng làm giảm tổng thể sức mạnh và hiệu suất của các bộ phận in và các tài liệu, dẫn đến sớm thất bại của vật liệu. Điều gì là cách mạng về quá trình mới này là rằng các phương pháp tìm kiếm các khiếm khuyết về cơ bản được nhúng trong các tài liệu.
Công nghệ là khả thi về mặt thương mại và có thể được mở rộng để ứng dụng công nghiệp, như công nghệ nano khác dựa trên các hạt nano, như hiển thị bằng cách sử dụng dấu chấm lượng tử tại điện tử tiêu dùng.
